Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 20.11.2019
JIS K0149-1:2019
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: JIS K0149-1:2019
Dátum vydania: 20.11.2019
Stránok: 18
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
