Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 20.11.2019
JIS K0149-1:2019
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 63 193.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS K0149-1:2019
Datum vydání: 20.11.2019
Stran: 18
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
