BS - Britské národní normy

Stránka 3677

91197 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
BS EN 60749-4:2017 (28.11.2017)

BS EN 60749-4:2017 (28.11.2017)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 191.60 EUR viac informácií
BS EN 60749-40:2011 (30.9.2011)

BS EN 60749-40:2011 (30.09.2011)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 267.70 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-41:2020 (9.9.2020)

BS EN IEC 60749-41:2020 (09.09.2020)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 267.70 EUR viac informácií
BS EN 60749-42:2014 (31.10.2014)

BS EN 60749-42:2014 (31.10.2014)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature and humidity storage.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 163.90 EUR viac informácií
BS EN 60749-44:2016 (30.11.2016)

BS EN 60749-44:2016 (30.11.2016)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 267.70 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-5:2024 (6.2.2024)

BS EN IEC 60749-5:2024 (06.02.2024)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-5:2024-TC (9.2.2024)

BS EN IEC 60749-5:2024-TC (09.02.2024)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 270.10 EUR viac informácií
BS EN 60749-6:2017 (24.11.2017)

BS EN 60749-6:2017 (24.11.2017)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 163.90 EUR viac informácií
BS EN 60749-7:2011 (30.9.2011)

BS EN 60749-7:2011 (30.09.2011)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-7:2026 (21.1.2026)

BS EN IEC 60749-7:2026 (21.01.2026)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 191.60 EUR viac informácií
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.