Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Stránka 3676
BS EN 60749-33:2004 (22.06.2004)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-34-1:2025 (18.08.2025)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling test for power semiconductor module.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 313.90 EUR viac informácií
BS EN 60749-34:2010 (28.02.2011)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN 60749-35:2006 (30.11.2006)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 267.70 EUR viac informácií
BS EN 60749-36:2003 (19.06.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acceleration, steady state.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-37:2022 (22.11.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 267.70 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-37:2022-TC (20.12.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 376.30 EUR viac informácií
BS EN 60749-38:2008 (30.06.2008)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-39:2022 (07.03.2022)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-39:2022-TC (17.03.2022)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 270.10 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
