Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Stránka 4014
BS EN 62047-10:2011 (30.09.2011)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Micro-pillar compression test for MEMS materials.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-11:2013 (31.10.2013)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 269.20 EUR viac informácií
BS EN 62047-12:2011 (30.11.2011)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 315.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-13:2012 (31.05.2012)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-14:2012 (31.05.2012)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Forming limit measuring method of metallic film materials.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-15:2015 (31.07.2015)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of bonding strength between PDMS and glass.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-16:2015 (31.07.2015)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-17:2015 (31.07.2015)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 315.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-18:2013 (31.10.2013)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 192.60 EUR viac informácií
BS EN 62047-19:2013 (31.10.2013)
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electronic compasses.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 315.60 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
