Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 610
JIS H0601:1962 (25.10.1962)
Testing methods of resistivity for germanium
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS H0602:1995 (30.11.1995)
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 800.00 EUR viac informácií
JIS H0603:1978 (31.03.1978)
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS H0604:1995 (31.07.1995)
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS H0607:1978 (10.03.1978)
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 100.00 EUR viac informácií
JIS H0609:1999 (29.02.2000)
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 9 200.00 EUR viac informácií
JIS H0610:1966 (31.01.1967)
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS H0611:1994 (28.02.1994)
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 300.00 EUR viac informácií
JIS H0613:1978 (05.01.1978)
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 000.00 EUR viac informácií
JIS H0614:1996 (31.01.1996)
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 300.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
