Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
STN - Slovenské národní normy
Stránka 2976
STN 358767 (01.08.1982) Neplatné
Semiconductor diodes. Methods of electrical parameters measurement
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN 358767-1 (01.11.1984) Neplatné
Semiconductor mixing diodes for ultrahigh frequency. Methods of measuring noise ratio and standardized noise figure
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN 358768 (01.04.1983) Neplatné
Semiconductor switching diodes. Electric parameters measurement methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN 358769 (01.04.1983) Neplatné
Semiconductor Zener diodes. Electric parameters measurement methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN 358773 (01.02.1977) Neplatné
Measurement of semiconductor devices. Thyristors. Measurement of blocking current and reverse blocking current
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN 358775 (01.10.1987) Neplatné
Light-emitting diodes. Noise measurement in forward direction
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN EN 62415 (01.10.2010)
Polovodičové súčiastky. Skúška elektromigrácie pri konštantnom prúde (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN EN 62416 (01.10.2010)
Polovodičové súčiastky. Skúška horúcich nosičov u tranzistorov MOS (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN EN 62417 (01.10.2010)
Polovodičové súčiastky. Skúška pohyblivých iónov v poľom riadených tranzistoroch s hradlom izolovaným oxidom kovu (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
STN EN IEC 63287-1 (01.01.2022)
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
