STN - Slovenské národní normy

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 7: Meranie obsahu vnútornej vlhkosti a analýza ostatných zvyškových plynov (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 31.1.2029).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené