Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3031
Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in December of 2024.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2021.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2021.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF
Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2022.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2018.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2018.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené