UNE - Španělské národní normy

Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in December of 2024.)
(Polovodičové součástky - Část 16-9: Mikrovlnné integrované obvody - Fázové posunovače.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2021.)
(Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2021.)
(Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF

Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
(Dispositivos semiconductores. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en octubre de 2020.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecná ustanovení.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2022.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en julio de 2022.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2018.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en abril de 2018.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2018.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en mayo de 2018.))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 14: Pevnost vývodů (neporušenost přívodů).)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné