UNE - Španělské národní normy - Stránka 3034

UNE-EN 60749-25:2004 (11.06.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling

Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 59.80 EUR viac informácií

UNE-EN IEC 60749-26:2018 (01.05.2018)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2018.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 100.00 EUR viac informácií

UNE-EN IEC 60749-26:2026 (01.04.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2026.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 101.90 EUR viac informácií

UNE-EN 60749-27:2006 (01.11.2006)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 57.80 EUR viac informácií

UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 (01.01.2013) Change

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 17.60 EUR viac informácií

UNE-EN IEC 60749-28:2022 (01.05.2022)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 100.00 EUR viac informácií

UNE-EN 60749-29:2011 (01.11.2011)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 69.60 EUR viac informácií

UNE-EN 60749-3:2017 (01.07.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 52.90 EUR viac informácií

UNE-EN IEC 60749-30:2020 (01.11.2020)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 64.70 EUR viac informácií

UNE-EN 60749-31:2004 (18.03.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 31.40 EUR viac informácií