Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE - Španělské národní normy
Stránka 3033
UNE-EN 60749-21:2011 (01.11.2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 68.60 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-21:2026 (01.03.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 70.60 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-22-1:2026 (01.02.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 115.60 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-22-2:2026 (01.02.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 85.30 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-22:2004 (26.03.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 22: Bond strength
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 67.60 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-23:2005 (16.03.2005)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 50.00 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 (21.12.2011) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 31.40 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-23:2026 (01.03.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 54.90 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-24:2005 (16.03.2005)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 47.00 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-24:2026 (01.02.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 54.90 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
