Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE - Španělské národní normy
Stránka 3035
UNE-EN 60749-32:2004 (18.03.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 35.30 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011 (19.01.2011) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 35.30 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-33:2005 (16.03.2005)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 40.20 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-34-1:2025 (01.09.2025)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in September of 2025.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 77.40 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-34:2011 (20.07.2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 59.80 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-35:2006 (01.01.2007)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 68.60 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-36:2004 (18.03.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 35.30 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-37:2022 (01.01.2023)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 71.50 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-38:2008 (01.09.2008)
Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 57.80 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-39:2022 (01.03.2022)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2022.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 64.70 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
