Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE - Španělské národní normy
Stránka 3315
UNE-EN 62047-21:2014 (01.11.2014)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 57.80 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-22:2014 (01.11.2014)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 52.90 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-25:2016 (01.01.2017)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2017.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 69.60 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-26:2016 (01.06.2016)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures (Endorsed by AENOR in June of 2016.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 75.50 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-3:2006 (01.01.2007)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing (IEC 62047-3:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 40.20 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-4:2010 (01.02.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 4: Generic specification for MEMS (Endorsed by AENOR in February of 2011.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 65.70 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-5:2011 (01.11.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 80.40 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-6:2010 (01.06.2010)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (Endorsed by AENOR in June of 2010.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 61.70 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-7:2011 (01.11.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 74.50 EUR viac informácií
UNE-EN 62047-8:2011 (01.09.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 64.70 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
