Neplatné | Vydaná: 01.06.2009

ASTM E1426-98(2009)e1 Neplatné

Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress (Includes all amendments And changes 2/27/2015).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 76.30 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E1426-98(2009)e1

Dátum vydania: 01.06.2009

Stránok: 5

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
elastic parameter, residual stress, x-ray diffraction, Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress--metallic materials, X-ray diffraction analysis, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populárna vydavatelia

celý katalóg