Neplatná | Vydána: 01.06.2009

ASTM E1426-98(2009)e1 Neplatná

Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress (Includes all amendments And changes 2/27/2015).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 76.30 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1426-98(2009)e1

Datum vydání: 01.06.2009

Stran: 5

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
elastic parameter, residual stress, x-ray diffraction, Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress--metallic materials, X-ray diffraction analysis, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populární vydavatelé

celý katalog