Neplatné | Vydaná: 01.05.2018

ASTM E2444-11(2018) Neplatné

Standard Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Withdrawn 2026)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 68.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2444-11(2018)

Dátum vydania: 01.05.2018

Stránok: 2

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure,, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)),31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Populárna vydavatelia

celý katalóg