Neplatná | Vydána: 01.05.2018

ASTM E2444-11(2018) Neplatná

Standard Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Withdrawn 2026)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 68.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E2444-11(2018)

Datum vydání: 01.05.2018

Stran: 2

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure,, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)),31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Populární vydavatelé

celý katalog