Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 10.10.1997
ASTM E986-97 Neplatné
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM E986-97
Dátum vydania: 10.10.1997
Stránok: 3
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:edge sharpness, electron beam size, E 766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, performance, SEM, specimen interaction, waveform, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
