Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 10.10.1997
ASTM E986-97 Neplatná
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E986-97
Datum vydání: 10.10.1997
Stran: 3
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:edge sharpness, electron beam size, E 766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, performance, SEM, specimen interaction, waveform, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
