Neplatné | Vydaná: 10.12.2000

ASTM F110-00a Neplatné

Standard Test Method for Thickness of Epitaxial or Diffused Layers in Silicon by the Angle Lapping and Staining Technique (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 77.00 USD zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F110-00a

Dátum vydania: 10.12.2000

Stránok: 4

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
angle lapping, diffused layer, epitaxial layer, etching, fringe count, staining, thickness, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Populárna vydavatelia

celý katalóg