Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
Označenie: ASTM F1188-02
Dátum vydania: 10.12.2002
Stránok: 9
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma