Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM F1188-02
Datum vydání: 10.12.2002
Stran: 9
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma