Neplatné | Vydaná: 01.01.1996

ASTM F1259M-96 Neplatné

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 1 701.80 CZK zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1259M-96

Dátum vydania: 01.01.1996

Stránok: 2

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

Populárna vydavatelia

celý katalóg