Neplatná | Vydána: 01.01.1996

ASTM F1259M-96 Neplatná

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 701.80 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1259M-96

Datum vydání: 01.01.1996

Stran: 2

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

Populární vydavatelé

celý katalog