Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 01.01.1992
ASTM F1366-92(1997)e1 Neplatné
Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F1366-92(1997)e1
Dátum vydania: 01.01.1992
Stránok: 5
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:FTIR, oxygen, secondary ion mass spectometry, silicon
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
