Neplatné | Vydaná: 10.12.2002

ASTM F1392-02 Neplatné

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 86.90 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1392-02

Dátum vydania: 10.12.2002

Stránok: 14

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
capacitance-voltage method, carrier density, carrier density profile, depth profile, epitaxial wafers, mercury probe, net carrier density, polished wafers, profiles, resistivity, silicon, single crystal silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Populárna vydavatelia

celý katalóg