Neplatná | Vydána: 10.12.2002

ASTM F1392-02 Neplatná

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 86.90 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1392-02

Datum vydání: 10.12.2002

Stran: 14

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
capacitance-voltage method, carrier density, carrier density profile, depth profile, epitaxial wafers, mercury probe, net carrier density, polished wafers, profiles, resistivity, silicon, single crystal silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Populární vydavatelé

celý katalog