Neplatné | Vydaná: 10.12.2002

ASTM F1393-02 Neplatné

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1393-02

Dátum vydania: 10.12.2002

Stránok: 8

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
depth profile, epitaxial wafers, mercury probe, miller feedback method, net carrier density, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Populárna vydavatelia

celý katalóg