Neplatná | Vydána: 10.12.2002

ASTM F1393-02 Neplatná

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1393-02

Datum vydání: 10.12.2002

Stran: 8

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
depth profile, epitaxial wafers, mercury probe, miller feedback method, net carrier density, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Populární vydavatelé

celý katalog