Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS CECC 00013:1985
Dátum vydania: 30.08.1985
Stránok: 24
Poznámka: Neplatné
Krajina: Britská technická norma