Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS CECC 00013:1985
Datum vydání: 30.08.1985
Stran: 24
Poznámka: Neplatná
Země: Britská technická norma