BS CECC 00013:1985 img
Neplatná | Vydána: 30.08.1985

BS CECC 00013:1985 Neplatná

Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 269.30 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: BS CECC 00013:1985

Datum vydání: 30.08.1985

Stran: 24

Poznámka: Neplatná

Země: Britská technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.