Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.12.2010
DIN EN 62418:2010-12
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
(Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 114.00 USD
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: DIN EN 62418:2010-12
Dátum vydania: 01.12.2010
Stránok: 19
Krajina: Nemecká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
