Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.12.2010
DIN EN 62418:2010-12
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
(Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 2 385.20 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: DIN EN 62418:2010-12
Datum vydání: 01.12.2010
Stran: 19
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
