Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind.)
Dostupné jazyky: Anglicky a nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: E DIN EN IEC 60749-20-1:2018-11
Dátum vydania: 01.11.2018
Stránok: 79
Krajina: Nemecká technická norma