Aktívna norma | Vydaná: 30.08.2002

IEC 60749-8-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Dostupné jazyky: Španielsky, Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 104.10 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 60749-8-ed.1.0

Dátum vydania: 30.08.2002

Stránok: 31

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispo-sitifs discrets et circuits integres), determine le taux de fuite des dispositifs a semiconducteurs. Le contenu des corrigenda davril 2003 et daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

Populárna vydavatelia

celý katalóg