Aktivní norma | Vydána: 30.08.2002

IEC 60749-8-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Dostupné jazyky: Španělsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 118.70 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 60749-8-ed.1.0

Datum vydání: 30.08.2002

Stran: 31

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispo-sitifs discrets et circuits integres), determine le taux de fuite des dispositifs a semiconducteurs. Le contenu des corrigenda davril 2003 et daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

Populární vydavatelé

celý katalog