Aktívna norma | Vydaná: 21.04.2022

IEC 63284-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 103.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 63284-ed.1.0

Dátum vydania: 21.04.2022

Stránok: 25

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress LIEC 63284:2022 couvre le protocole dexecution dune procedure de contrainte et une methode dessai correspondante, en vue devaluer la fiabilite des transistors de puissance a base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.

Populárna vydavatelia

celý katalóg