Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
Označenie: IEEE 1620-2008
Dátum vydania: 05.12.2008
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Medzinárodná technická norma