Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 05.12.2008
IEEE 1620-2008 Neplatná
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
od 2 233.20 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: IEEE 1620-2008
Datum vydání: 05.12.2008
Stran: 0
Poznámka: Neplatná
Země: Mezinárodní technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
