Aktívna norma | Vydaná: 22.07.2022

ISO 24688:2022

Determination of modulation period of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods
(Titre manque)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 86.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ISO 24688:2022

Dátum vydania: 22.07.2022

Stránok: 8

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Description / Abstract: This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).

Populárna vydavatelia

celý katalóg