Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 3672
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 14: Pevnost vývodů (neporušenost přívodů). )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Particle impact noise detection (PIND).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND). )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné