BS - Britské národní normy

Strana 3672

91197 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
BS EN IEC 60749-12:2018 (18.4.2018)

BS EN IEC 60749-12:2018 (18.04.2018)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 163.90 EUR více informací
BS EN IEC 60749-13:2018 (30.4.2018)

BS EN IEC 60749-13:2018 (30.04.2018)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 191.60 EUR více informací
BS EN 60749-14:2003 (15.12.2003)

BS EN 60749-14:2003 (15.12.2003)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 14: Pevnost vývodů (neporušenost přívodů). )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 191.60 EUR více informací
BS EN IEC 60749-15:2020 (1.10.2020)

BS EN IEC 60749-15:2020 (01.10.2020)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 191.60 EUR více informací
BS EN 60749-16:2003 (24.6.2004)

BS EN 60749-16:2003 (24.06.2004)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Particle impact noise detection (PIND).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND). )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 163.90 EUR více informací
BS EN IEC 60749-17:2019 (15.5.2019)

BS EN IEC 60749-17:2019 (15.05.2019)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 163.90 EUR více informací
BS EN IEC 60749-17:2019-TC (24.2.2020)

BS EN IEC 60749-17:2019-TC (24.02.2020)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 230.80 EUR více informací
BS EN IEC 60749-18:2019 (10.6.2019)

BS EN IEC 60749-18:2019 (10.06.2019)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 267.70 EUR více informací
BS EN IEC 60749-18:2019-TC (3.11.2020)

BS EN IEC 60749-18:2019-TC (03.11.2020)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 376.30 EUR více informací
BS EN 60749-19:2003+A1:2010 (31.10.2010)

BS EN 60749-19:2003+A1:2010 (31.10.2010)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 163.90 EUR více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.