Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB - Čínské národní normy
Strana 1802
GB/T 24576-2009 (30.10.2009)
Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 5 250.70 CZK více informací
GB/T 24577-2009 (30.10.2009)
Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 8 768.00 CZK více informací
GB/T 24578-2024 (24.07.2024)
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 10 024.20 CZK více informací
GB/T 24579-2009 (30.10.2009)
Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 7 009.40 CZK více informací
GB/T 24580-2009 (30.10.2009)
Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 5 753.20 CZK více informací
GB/T 24581-2022 (09.03.2022)
Test method for and impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 4 497.10 CZK více informací
GB/T 24582-2023 (06.08.2023)
Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 4 396.60 CZK více informací
GB/T 24583.1-2019 (04.06.2019)
Vanadium-nitrogen—Determination of vanadium content—Ammonium ferrous sulfate titration method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 768.50 CZK více informací
GB/T 24583.2-2019 (04.06.2019)
Vanadium-nitrogen—Determination of nitrogen content—Thermal conductimetric method after fusion in a current of inert gas
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 768.50 CZK více informací
GB/T 24583.3-2019 (04.06.2019)
Vanadium-nitrogen—Determination of nitrogen content—Distillation-neutralization titration method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 517.20 CZK více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
