DIN - Německé národní normy

VDE 0815-1. Cables for indoor residential telecommunication installations - Part 1: Unscreened cables - Grade 1.
(Kabely pro vnitřní bytové telekomunikační instalace - Část 1: Nestíněné kabely - Třída 1. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0815-2. Cables for indoor residential telecommunication installations - Part 2: Screened cables - Grade 1.
(Kabely pro vnitřní bytové telekomunikační instalace - Část 2: Stíněné kabely - Třída 2. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0815-3. Cables for indoor residential telecommunication installations - Part 3: Screened cables - Grade 3.
(Kabely pro vnitřní bytové telekomunikační instalace - Část 3: Stíněné kabely - Třída 3..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0815-4. Cables for indoor residential telecommunication installations - Part 4: Cables up to 1 200 MHz - Grade 3.
(Kabely pro vnitřní bytové telekomunikační instalace - Část 4: Kabely do 1200 MHz - Třída 3.)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

VDE 0845-8. Effects of electromagnetic interference on pipelines caused by high voltage a.c. electric traction systems and/or high voltage a.c. power supply systems.
(Účinky elektromagnetické interference na potrubí způsobené AC vysokonapěťovými elektrickými trakčními soustavami a/nebo AC vysokonapěťovými napájecími soustavami.)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

Straight thermocouple assembly with metal or ceramic protection tube and accessories.
(Sestavy přímých termočlánků s kovovou nebo keramickou ochrannou trubkou a příslušenstvím..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 2: Determination of Oxygen impurities in Nitrogen, Argon, Helium, Neon and Hydrogen using a galvanic cell.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS).

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné