Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN - Německé národní normy
Strana 3102
DIN EN IEC 60747-16-8:2024-04 (01.04.2024)
Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters.
(Polovodičové součástky - Část 16-8: Mikrovlnné integrované obvody - Limitery..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 3 120.90 CZK více informací
DIN EN IEC 60747-16-9:2026-10 (01.10.2026)
Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters.
(Polovodičové součástky - Část 16-9: Mikrovlnné integrované obvody - Fázové posunovače..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 3 407.60 CZK více informací
DIN EN IEC 60747-17:2021-10 (01.10.2021)
VDE 0884-17. Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation.
(Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
od 3 532.70 CZK více informací
DIN IEC 60747-2:2001-02 (01.02.2001)
Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 3 532.70 CZK více informací
DIN EN IEC 60747-5-5:2021-10 (01.10.2021)
VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
od 3 657.10 CZK více informací
DIN EN 60749-1:2003-12 (01.12.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecná ustanovení..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 1 367.20 CZK více informací
DIN EN IEC 60749-10:2023-12 (01.12.2023)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 2 215.70 CZK více informací
DIN EN 60749-11:2003-04 (01.04.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 1 367.20 CZK více informací
DIN EN IEC 60749-12:2018-07 (01.07.2018)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 1 367.20 CZK více informací
DIN EN IEC 60749-13:2018-10 (01.10.2018)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 2 215.70 CZK více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
