Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Označení: IEC/TR 63258-ed.1.0
Datum vydání: 19.03.2021
Stran: 0
Země: Mezinárodní technická norma