Aktivní norma | Vydána: 01.04.2022

ISO/TS 22933:2022

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode pour le mesurage de la résolution en masse dans la SIMS)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 127.80 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO/TS 22933:2022

Datum vydání: 01.04.2022

Stran: 15

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Description / Abstract: This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.

Populární vydavatelé

celý katalog