Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 20.02.2014
JIS C5630-12:2014
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 600.00 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS C5630-12:2014
Datum vydání: 20.02.2014
Stran: 24
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
