Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 20.03.2009
JIS C5630-3:2009
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 1 800.00 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: JIS C5630-3:2009
Datum vydání: 20.03.2009
Stran: 6
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
