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IEEE - Progressive Technologie für Menschen
Seite 285
IEEE 1668-2014 (22.09.2014) Ungültige
IEEE Trial-Use Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V
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IEEE 167-1966 (29.06.1966) Ungültige
IEEE Test Procedure for Facsimile
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IEEE 1671-2006 (15.12.2006) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
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IEEE 1671-2010 (20.01.2011) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML
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IEEE 1671.1-2009 (11.12.2009) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions
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IEEE 1671.2-2008 (17.12.2008) Ungültige
IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Instrument Descriptions
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IEEE 1671.2-2012 (15.02.2013) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description
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IEEE 1671.3-2007 (28.03.2008) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML (eXtensible Markup Language): Exchanging UUT (Unit Under Test) Description Information
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IEEE 1671.4-2007 (30.04.2008) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information
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IEEE 1671.5-2008 (01.02.2012) Ungültige
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information
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